Elcometer 456整體式和分體式干膜測(cè)厚儀
易高456有3種不同型號(hào)可選。每種儀器的功能不斷增加，從入門型456 B，到型 的456 T。 整體式儀器適合單手操作，因?yàn)樵跍y(cè)量中，“大腳探頭”的大接觸面具有更好的穩(wěn)定 性，使用戶得到持續(xù)且重復(fù)性強(qiáng)的結(jié)果。 分體式提供多種探頭，測(cè)量機(jī)動(dòng)性更強(qiáng)。 易高456提升新標(biāo)準(zhǔn) ; 提供可靠而的涂層厚度測(cè)量結(jié)果， 提高工作效率。
簡(jiǎn)便易用- ※大按鍵，即使戴上手套也可方便操作
- ※多語言菜單設(shè)置
- ※高對(duì)比度彩色LCD , 并帶有自動(dòng)旋轉(zhuǎn)功能
- ※高 , 低限值指示標(biāo)志
- ※工廠已校準(zhǔn)，拆包即用
| 堅(jiān)固 - ※密封 , 耐用 , 抗沖擊性強(qiáng)
- ※防塵防水，防護(hù)等級(jí)相當(dāng)于IP64
- ※顯示器抗劃性及防溶劑性強(qiáng)
- ※儀器及探頭結(jié)構(gòu)持久耐用
- ※適合在惡劣環(huán)境下使用
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使用帶有掃描探頭的易高456涂層測(cè)厚儀減半檢查時(shí)間
易高456涂層測(cè)厚儀掃描探頭具有高度耐用的探頭帽，是一種革命性的設(shè)計(jì), 允許用戶獲取單獨(dú)的干膜厚度讀數(shù)或快速掃描大的表面積,而不會(huì)損壞探頭或涂層。當(dāng)與易高456涂層測(cè)厚儀掃描或自動(dòng)重復(fù)模式結(jié)合使用時(shí), 掃描探頭使用戶能夠顯著減少干膜厚度檢時(shí)間, 而不會(huì)影響準(zhǔn)確性.讀數(shù)速率為每分鐘140個(gè)讀數(shù), 易高456涂層測(cè)厚儀帶有掃描探頭, 允許您在更短的時(shí)間內(nèi)檢查更多的涂層.
篤摯儀器（上海）有限公司主營檢測(cè)儀器設(shè)備有：
==>>德國菲希爾 Helmut FISCHER X射線鍍層測(cè)厚儀、便攜式涂鍍層測(cè)厚儀；
==>>英國泰勒-霍普森TaylorHobson粗糙度儀、輪廓儀、圓度儀、圓柱儀、光學(xué)三維形貌測(cè)量?jī)x；
==>>德國馬爾mahr表面粗糙度儀、高度測(cè)量?jī)x、千分尺、卡尺；
==>>德國EPK（Elektrophysik）手持式涂覆層測(cè)厚儀；
==>>德國艾達(dá)米克霍梅爾HOMMEL 便攜式粗糙度儀；
==>>美國API XD系列激光干涉儀；
==>>美國GE無損檢測(cè)超聲波探傷儀、超聲波測(cè)厚儀；
==>>日本三豐Mitutoyo量具、粗糙度儀、測(cè)高儀、千分尺、卡尺；
==>>英國雷尼紹Renishaw三坐標(biāo)測(cè)量機(jī)測(cè)頭測(cè)針、機(jī)床測(cè)頭、位置編碼器、光柵、激光尺；
==>>德國Fraunhofer－IZFP無損檢測(cè)技術(shù)研究所 淬火層厚度無損測(cè)量系統(tǒng)；
==>>美國FLIR熱成像系統(tǒng)、夜視系統(tǒng)、紅外熱像儀、紅外探測(cè)器；
==>>美國奧林巴斯Olympus超聲波測(cè)厚儀、超聲波探傷儀、渦流探傷儀、XRF金屬分析儀；
==>>TRIMOS測(cè)長儀、測(cè)高儀、萬能測(cè)長機(jī)；
==>>杭州思看科技三維掃描儀.
技術(shù)參數(shù)： |
顯示信息 | 2.4”（6 cm) QVGA 彩色薄膜晶體管顯示屏, 320x240像素 |
電池類型 | 2節(jié)AA電池，充電電池也可使用 |
電池壽命 | 以每秒1個(gè)讀數(shù)，可連續(xù)工作*長24小時(shí)5 |
儀器尺寸（高x寬x長） | 141 x 73 x 37mm (5.55 x 2.87 x 1.46") |
儀器重量 | 161g (5.68oz) 包括電池在內(nèi)重 |
操作溫度 | -10 至 50°C (14 至 122°F) |
包裝清單 | 易高Elcometer 456主機(jī)、校準(zhǔn)膜片 (只限整體式)、腕帶、提箱 (型)、保護(hù)套 (基本、 標(biāo)準(zhǔn)、型)、一個(gè)屏保帖 (標(biāo)準(zhǔn)、型)、2節(jié)AA電池、操作手冊(cè)、USB線 (標(biāo)準(zhǔn)、高 級(jí)型)、易高軟件 (標(biāo)準(zhǔn)、型)。 |
5 使用默認(rèn)設(shè)置和鋰電池，堿性電池或可充電電池可能會(huì)有所不同
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英國易高Elcometer
易高附著力測(cè)試儀
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